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(4.26)学术报告:Experimental aspects of XAS-conventional and unconventional instrumentations

时间:2013年4月26日(周五)上午10:00
地点:强磁场科学中心201会议室
报告人:Hiroyuki Oyanagi教授(日本国立产业技术综合研究所)
主持人:张昌锦研究员
报告摘要
       X射线吸收光谱是研究物质结构的一种非常有效的手段。实验中绝大多数物质结构探测技术一般都是以晶体—长程有序结构的衍射现象为基础,但XAFS(X-Ray AbsorptionFine Structure,X光吸收精细结构谱)是一个例外。XAFS之所以能成为研究物质(包括晶体,非晶体甚至液体等)结构的有力工具,原因在于它是以散射现象——近邻原子对中心吸收原子出射光电子的散射为基础,反映的是物质内部吸收原子周围短程有序的结构状态。XAS实验在包括物理学,材料科学,地质学,化学和生物学在内的多个学科领域具有非常重要的意义。本报告将从实验方面对x射线吸收光谱进行基础方面的介绍。
报告人简介
        Hiroyuki Oyanagi 教授1980年毕业于东京大学物理系固体分光专业,获理学博士学位。1980年进入日本电子技术综合研究所工作。1992年起任该所基础物质研究室研究长。1992年《x射线吸收光谱研究》获日本科学技术厅长官奖。2000年4月起任日本京都大学教授。现为日本国立产业技术综合研究所主任研究员,国际x射线吸收学会主席,兼任中国科技大学国家同步辐射实验室客座教授,外专专家。Oyanagi教授在x射线吸收精细结构方面的研究共发表学术论文200余篇,论文被他引6000余次。

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